Skip navigation
Home
Browse
Communities
& Collections
Browse Items by:
Author
Title
Keyword
Type
Help
Language
Ελληνικά
English
Sign on to:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
Υπατία
Search
Search:
All of DSpace
Ακαδημαϊκή Έρευνα και Εκπαίδευση
Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών
Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών Τ.Ε.
Δημοσιεύσεις
for
Current filters:
Title
Author
Subject
Type
Date Issued
Equals
Contains
ID
Not Equals
Not Contains
Not ID
Start a new search
Add filters:
Use filters to refine the search results.
Title
Author
Subject
Type
Date Issued
Equals
Contains
ID
Not Equals
Not Contains
Not ID
Results 11-20 of 42 (Search time: 0.004 seconds).
previous
1
2
3
4
5
next
Item hits:
Issue Date
Title
Author(s)
2015-04-19; 2004-07
Detection of short period transients in geophysical signals using wavelet transform
Χλούπης, Γεώργιος Π.
;
Βαλλιανάτος, Φίλιππος
;
Μακρής, Ιωάννης Π.
;
Τριάντης, Δήμος Α.
;
Stonham, John T.
2015-05-18; 2004
Modification of polymer swelling by UV irradiation for use in chemical sensing
Γουστουρίδης, Δημήτριος
;
Χατζανδρούλης, Σταύρος Ε.
;
Ράπτης, Ιωάννης Α.
;
Βαλαμόντες, Ευάγγελος Σ.
2015-04-16; 2004
Application of clean algorithm in incomplete microtremors recordings
Χλούπης, Γεώργιος Π.
;
Μωϋσίδη, Μαργαρίτα
;
Βαλλιανάτος, Φίλιππος
;
Μακρής, Ιωάννης Π.
;
Stonham, John T.
2015-05-01; 2004-04
Pressure stimulated currents in rocks
Τριάντης, Δήμος Α.
;
Σταύρακας, Ηλίας
;
Σάλτας, Βασίλης
;
Αγιουτάντης, Ζαχαρίας
;
Βαλλιανάτος, Φίλιππος
2015-05-01; 2004-04
Pressure stimulated currents in rock samples
Τριάντης, Δήμος Α.
;
Βαλλιανάτος, Φίλιππος
;
Σταύρακας, Ηλίας
;
Αναστασιάδης, Κίμων
2015-05-01; 2004-04
An estimation of HVSR reconstructed incomplete microtremors recordings
Βαλλιανάτος, Φίλιππος
;
Χλούπης, Γεώργιος Π.
;
Μακρής, Ιωάννης Π.
;
Μωϋσίδη, Μαργαρίτα
;
Stonham, John T.
2015-05-19; 2004-02-22
Effects of different processing conditions on line-edge roughness for 193-nm and 157-nm resists
Πάτσης, Γεώργιος
;
Κωνσταντούδης, Βασίλειος
;
Ercken, Monique
;
Leunissen, Leonardus H. A.
;
Pollentier, Ivan
2015-05-20; 2004-06
Line edge roughness investigation on chemically amplified resist materials with masked helium ion beam lithography
Eder-Kapl, Stefan
;
Loeschner, Hans
;
Zeininger, Michalea
;
Fallmann, Wolfgang
;
Kirch, Oliver
2015-05-19; 2004-09
Effects of photoresist polymer molecular weight on line-edge roughness and its metrology probed with Monte Carlo simulations
Πάτσης, Γεώργιος
;
Κωνσταντούδης, Βασίλειος
;
Γογγολίδης, Ευάγγελος
2015-05-19; 2004-02-22
Toward a complete description of linewidth roughness
Κωνσταντούδης, Βασίλειος
;
Πάτσης, Γεώργιος
;
Leunissen, Leonardus H. A.
;
Γογγολίδης, Ευάγγελος
Discover
Type
26
Δημοσίευση σε περιοδικό
16
Δημοσίευση σε συνέδριο
Subject
6
LER
3
Φωτοαντίσταση
2
fracture
2
Genetic algorithms
2
microcracks
2
Neural networks
2
Photoresistance
2
Radial basis functions
2
Rocks
2
Μάρμαρο
.
next >
Date issued
42
2015